Научный журнал
Современные наукоемкие технологии
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,916

Получение и исследование электропроводности Cu2SnS3

Захвалинский В.С. 1 Фам Тхи Тхао 1 Нгуен Тхи Тхам Хонг 1 Хмара А.Н. 1
1 Белгородский государственный национальный исследовательский университет
1. Bouaziz M., Amlouk M., Belgacem S. Structural and optical properties of Cu2SnS3 sprayed thin films // Thin Solid Films. – 2009. – № 517.– С. 2530.
2. Захвалинский В.С., Пилюк Е.А. Методические указания к лабораторной работе «Исследование температурной зависимости электропроводности полупроводников» по физическим основам электроники и физике твёрдого тела для специальностей «Физика» и «Медицинская физика». − М., 2012. − 19 с.
3. Janos Madarasz, Petra Bombicz, Masayuki Okuya, Shoji Kaneko. Thermal decomposition of thiourea complexes of Cu(I), Zn(II), and Sn(II) cholorides as precursors for the spray pyrolysis deposition of sulphide thin films // Solid State Ionics. – 2001. – № 141. – С. 445.
4. Прохоров А.М. Физическая энциклопедия. В 5-ти т. – М.: Советская энциклопедия. – Режим доступа: http://dic.academic.ru/dic.nsf/enc_physics/2175/прыжковая.
5. Transport properties og Cu2ZnSnS4 / M. Guc, K.G. Lisunov, A. Nateprov, S. Levcenko, V. Tezlevan, and E. Arushanov // Institute of Applied Physics, Academy of Sciences of Moldova, Academiei str. 5, Chisinau, MD-2028 Republic of Moldova. – 2011. – C. 143.
6. Variable – range hopping conductivity in La1-xCaxMn1-yFeyO3: evidence of a complex gap in density of states near the Fermi level / R. Laiho, K.G. Lisunov, E.L. ahderanta, P.A. Petrenko, J. Salminen, M.A. Shakhov, M.O. Safontchik, V.S. Stamov, M.V. Shubnikov, V.S. Zakhvalinskii // Journal of physics: condensed matter. – 2002. – C. 8043.

В настоящее время, энергичной проблемой является глобальная проблема. Поэтому задача, которая стоит перед людьми, это поиск новых экологически чистых источников энергий в качестве традиционных топлив. Среди наиболее перспективных источников экологически чистой энергии важное место занимают фотоэлектрические полупроводниковые преобразователи (ФЭПП) солнечной энергии. Достоинством этих устройств является безотходность технологии преобразования энергии и относительно простая конструкция, что позволяет использовать их в самых различных климатических условиях, включая работу на космических аппаратах. К недостаткам ФЭПП, следует отнести низкие значения коэффициента полезного действия и высокую стоимость получаемой энергии.

Выходом из сложившийся ситуации является применение новых полупроводниковых материалов в качестве поглощающего слоя. В ряде исследований [1, 2] было установлено, что Cu2SnS3 является хорошим кандидатом на использование в качестве р – полупроводникового поглощающего свет слоя.

В настоящей работе описана технология получения и приведены результаты исследования температурных зависимостей электропроводности поликристаллических образцов Cu2SnS3.

Эксперимент

Синтез Cu2SnS3 был осуществлён методом пиролитического разложения стехиометрической смеси солей CuCl2∙H2O (0,0855 г), SuCl2∙H2O (2,26 г), SC(NH2)2 (2,28 г) путём растворения их в 50 %-м этиловом спирте при интенсивном перемешивании до однородного раствора. Полученный раствор подвергался сушке при температуре 75 °С в течение двух суток. Для гомогенизации, сухой порошок был измельчён в ступке. Затем полученный порошок отжигали в вакуумной печи при 400 °С в течение получаса.

Был проведен рентгенофазовый анализ образца на диффрактометре Rigaku IV на порошке, съёмка θ –2θ, в диапазоне углов 10-100 град., шаг 0,04 град., скорость 2 град./мин., фильтр Ni (Kβ), Cu Kα λ = 1,54056 Å, без монохроматора, в геометрии Брен-Брентано. Полученная порошковая диффрактограмма приведена на рис. 1.

Электропроводность была исследована на прессованных поликристаллических образцах в форме прямоугольного параллелепипеда 2,66×8×1,3 мм. Измерения были проведены четырёхзондовым методом, в диапазоне температур от 10 до 320 К.

а pic_38_1.tif бpic_38_2.tif

Рис. 1. Спектр порошковой дифракции образца Cu2SnS3:а – рентгеновский спектр Cu2SnS3 в работе [3]; в – рентгеновский спектр синтезированного материала Cu2SnS3

Результаты эксперимента и обсуждение

При сравнении графиков представленных на рис. 1 мы видим, что положение основных пиков зависимости полученной в работе [3] (см. рис. 1(а)) и полученной нами (см. рис. 1(в)) полностью совпадают. Этот факт подтверждает факт синтеза Cu2SnS3 методом пиролитического разложения стехиометрической смеси хлоридов компонентов и тиомочевины.

Результаты исследования зависимости удельного сопротивления от температуры образца поликристаллического Cu2SnS3представлены в рис. 2.

pic_39.tif

Рис. 2. Зависимость удельного сопротивления образца Cu2SnS3от температуры в диапазоне 10–320 K

Как видно из рис. 2 в исследованном диапазоне температур можно выделить 2 участка удельной электропроводности. На первом участке в интервале от 10 до 170 K с увеличением температуры удельное сопротивление уменьшается. Такое поведение характерно для примесных полупроводников и связано с активацией примеси. На втором участке, удельное сопротивление увеличивается с повышением температуры, обычно в полупроводниках этот участок соответствует процессу истощения примеси.

Электропроводность в сильно легированных, неупорядоченных и аморфных полупроводниках часто связана с различными механизмами прыжковой проводимости.

Анализ низко температурного участка, электропроводности полупроводника Cu2SnS3 был сделан в предположении преобладания механизма прыжковой проводимости, то есть механизма проводимости, при котором перенос заряда осуществляется путём квантовых туннельных переходов («прыжков») носителей заряда между различными локализованными состояниями [4].

Зависимость удельного сопротивления полупроводника в области прыжковой проводимости описывается формулой:

Eqn39.wmf (1)

где ApTm постоянный предэкспоненциальный множитель, p и m выбирается в зависимости от типа «прыжков» электрона. Величины p = 1, 2, 4 определяют соответственно прыжковую проводимость через ближайших соседей, прыжковую проводимость с переменной длиной прыжка по Шкловскому-Эфросу, прыжковую проводимость с переменной длиной прыжка по Моту [5, 6].

Для того чтобы определить механизм прыжковой проводимости образца Cu2SnS3 мы линеаризовали зависимость ρ(T) методом выбора соответственных пар p и m. В результате линеаризации, был построен график ln ρ(T–m) от T–1/p[6], и было установлено, что проводимость при низких температур подчиняется механизму прыжковой проводимости с переменной длиной прыжка по Мотту, что соответствует p = 4 и m = 1/4.

Были получены, некоторые характеристические величины, которые представлены в таблице

Параметры механизма прыжковой проводимости в интервале температур от 10 до 170 K

A4 (ΩcmK–1/4)

Tv (K)

Tm (K)

T04 (K)

W0 (meV)

1,516⋅10-3

170

40

348,608

17,56

Примечания: где Tv – наибольшая температура, при которой ещё справедлив механизм прыжковой проводимости по Моту;

Tm – наименьшая температура, при которой ещё справедлив механизм прыжковой проводимости по Мотту;

T04 – характеристическая температура прыжковой проводимости с переменной длиной прыжка по Мотту;

W0 – параметр, определяющий проводимость установлен по формуле:

Eqn40.wmf (2)

где k – постоянная Больцмана.

Заключение

В настоящей работе мы сообщаем о результатах синтеза Cu2SnS3 методом пиролитического разложения стехиометрической смеси хлоридов компонентов и тиомочевины при температуре 400 °С. Успешный синтез подтверждён исследованиями фазовой структуры образца хорошо совпадающими с литературным данными. В результате исследования температурной зависимости удельного сопротивления образца Cu2SnS3 от температуры в диапазоне 10 до 320 K было установлено что, при низких температурах, проводимость определяется механизмом прыжковой проводимости с переменной длиной прыжка по Мотту (в области температур от 10 до 170 K).

Часть результатов приведенных в настоящей работе была получена в рамках выполнения Государственного задания 2.3309.2011.


Библиографическая ссылка

Захвалинский В.С., Фам Тхи Тхао, Нгуен Тхи Тхам Хонг, Хмара А.Н. Получение и исследование электропроводности Cu2SnS3 // Современные наукоемкие технологии. – 2013. – № 6. – С. 58-59;
URL: http://www.top-technologies.ru/ru/article/view?id=31976 (дата обращения: 09.08.2020).

Предлагаем вашему вниманию журналы, издающиеся в издательстве «Академия Естествознания»
(Высокий импакт-фактор РИНЦ, тематика журналов охватывает все научные направления)

«Фундаментальные исследования» список ВАК ИФ РИНЦ = 1.074